粒徑是表示粉體顆粒尺寸大小的幾何參數。但絕大多數的粉體顆粒其形狀都是不規則的幾何體，我們在粉體顆粒測量中把被測粉體顆粒等效成同質量球體的直徑作為被測顆粒的粒徑。一種粉體樣品中的粉體顆粒大小各不相同，所以在測量和評價粉體時需要用粒度分布曲線才能較為地描述粉體的整體顆粒大小，即測出種粒徑大小的粉體顆粒占粉體總量的比例。粉體粒徑通常按顆粒大小順序將粉體分為若干等級，以各級顆粒粒徑占總體質量的百分數表示。

粉體粒度測試系統技術參數說明：

1、采用全息信號同步處理技術，實時測量速度高達每秒20000次，不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息，符合ISO13320衍射法測量技術標準。

2、改進型反演算法，用戶無需選擇“分析模式”，兼顧的分辨率和穩定性，無需更換透鏡，無需使用標準樣校準，量程范圍達到0.02微米至3600微米。

3、粉體粒度測試系統采用自動溫度恒定技術的超高穩定固體激光光源系統，克服了氦氖氣體激光器預熱時間長，使用壽命短的缺點。

4、粉體粒度測試系統采用偏振空間濾波技術，摒棄導致機械和熱穩定性差的針孔濾波器，金屬拉絲外殼設計，兼顧耐用性和提高儀器的抗干擾能力。

粉體粒度測試系統技術指標